顯微鏡型相位差測量儀儀WPA-micro操作簡單，測量速度可以快到3秒，采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內(nèi)可一次測量，測量范圍廣。測量數(shù)據(jù)是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。維護(hù)簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。

產(chǎn)品型號：WPA-micro

更新時間：2026-01-12

廠商性質(zhì)：代理商

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產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品簡介

顯微鏡型相位差測量儀WPA-micro系列是Photonic lattice公司以其世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，*的測量技術(shù)，高速的測量能力使其成為*的光學(xué)測量產(chǎn)品。顯微鏡版的入門級產(chǎn)品。

高相位差樣品的顯微鏡視野測量，針對鋼化玻璃和光學(xué)薄膜剖面評估，亦可用于測量球晶、金屬晶體等。

相位差測量儀特點(diǎn)：

操作簡單，測量速度可以快到3秒，

采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內(nèi)可一次測量，測量范圍廣。

測量數(shù)據(jù)是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。

維護(hù)簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。

顯微鏡型儀WPA-micro主要應(yīng)用：

鋼化玻璃和光學(xué)薄膜。

球晶、金屬晶體等。

高分子結(jié)晶。

參數(shù)指標(biāo)：