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雙折射測(cè)量?jī)x
應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)xWPA系列
應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)WPA系列可測(cè)量相位差高達(dá)3500nm,適合PC高分子材料,是Photonic lattice公司以其光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品,的測(cè)量技術(shù)使其成為的光學(xué)測(cè)量產(chǎn)品。該產(chǎn)品在測(cè)量過程中可以對(duì)視野范圍內(nèi)樣品一次測(cè)量,全面掌握應(yīng)力分布。WPA-200型更是市場(chǎng)上的多功能機(jī)器,適合用來測(cè)量光學(xué)薄膜或透明樹脂。量化測(cè)量結(jié)果,二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。
紅外應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)WPA-NIR硫系,紅外樹脂等材料對(duì)可見光不透過,這樣的樣品殘余應(yīng)力評(píng)估很難實(shí)現(xiàn),為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測(cè)量?jī)x,采用850nm或940nm波長(zhǎng),能高速的測(cè)量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應(yīng)力分布。
應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)WPA-200-MT是Z業(yè)用于手機(jī)鏡頭等小尺寸鏡頭的應(yīng)力雙折射測(cè)量設(shè)備。鏡片的雙折射現(xiàn)象會(huì)造成鏡片成像性能(MTF)下降,智能手機(jī)所使用的鏡片需要高解析度,因此需要減少雙折射的影響,了解鏡片的雙折射的大小,是鏡片生產(chǎn)過程中關(guān)鍵質(zhì)控的,WPA-200-MT正符合這樣的需求,并能高速完成各項(xiàng)測(cè)量。
光學(xué)應(yīng)力分析儀WPA-NIR硫系,紅外樹脂等材料對(duì)可見光不透過,這樣的樣品殘余應(yīng)力評(píng)估很難實(shí)現(xiàn),為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測(cè)量?jī)x,采用850nm或940nm波長(zhǎng),能高速的測(cè)量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應(yīng)力分布。
雙折射應(yīng)力測(cè)試設(shè)備WPA系列可測(cè)量相位差高達(dá)3500nm,適合PC高分子材料,是Photonic lattice公司以其光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品,的測(cè)量技術(shù)使其成為的光學(xué)測(cè)量產(chǎn)品。該產(chǎn)品在測(cè)量過程中可以對(duì)視野范圍內(nèi)樣品一次測(cè)量,全面掌握應(yīng)力分布。WPA-200型更是市場(chǎng)上的多功能機(jī)器,適合用來測(cè)量光學(xué)薄膜或透明樹脂。量化測(cè)量結(jié)果,二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。
應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)WPA-200-L系列是Photonic lattice公司以其優(yōu)良世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品,高精度的測(cè)量技術(shù),高速而又精q的測(cè)量能力使其成為精確的光學(xué)測(cè)量產(chǎn)品。 該產(chǎn)品在測(cè)量過程中可以對(duì)視野范圍內(nèi)樣品一次測(cè)量,全面掌握應(yīng)力分布。可測(cè)數(shù)千nm高相位差分布的萬用機(jī)器,Z適合用來測(cè)量光學(xué)薄膜或透明樹脂。量化測(cè)量結(jié)果,二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。
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